製品情報
SX1 セットには、3 本のパッシブ磁界プローブと専用ケーブル1本が含まれています。開発プロセス中の電子アセンブリ及び IC 上の 1 GHz ～ 10 GHz の高クロック周波数帯の電界及び磁界を測定することができます。SX1 セットのプローブ ヘッドは、電子アセンブリに非常に近づけた位置での測定を可能にするので、IC ピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、干渉源を特定することができます。また、電子アセンブリの磁界の向きや分布についても、検出することができます。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 50 Ω 入力のスペクトラム アナライザまたはオシロスコープに接続できます。
3GHzを超える高いクロックレートでは、すでに 3 次高調波が10 GHz に達します。 これらの高調波は、基板上の RF ソース、例えば導体セクション、IC、その他のコンポーネントから切り離されますが、アセンブリの他の構造部品が励起されて振動し、干渉放射が発生する可能性があります。 最近では、アセンブリ内部の基本周波数が高くなっているため、高調波周波数の倍数における測定は、EMCに準拠するために重要なステップとなります。