XF1 近傍界プローブセットには、4本の磁界プローブと、1本の電界プローブ、そして専用ケーブル1本が含まれています。開発プロセス中の電子アセンブリ上の 30 MHz ～ 6 GHz の電界と磁界を測定することができます。 またそのインピーダンスマッチングにより、RF タイプのプローブよりも低い周波数帯における感度は低いです。 XF1 セットのプローブ ヘッドは、アセンブリ上の磁界干渉源の位置を段階的に特定することができる様に設計されています。 まず、XF-R 400-1 プローブを使用して、遠距離からの電磁干渉を検出した後、より高分解能のプローブを使用して、干渉源をより正確に検出します。 電界プローブは、アセンブリ近くの電気干渉検出に使用します。 近傍界プローブの扱いに慣れてくると、フィールドの向きや分布を検出できる様になります。Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 50 Ω 入力のスペクトラム アナライザまたはオシロスコープに接続でき、 XFシリーズには、終端抵抗が内蔵されています。

XF-R 400-1　H-Field Probe 30 MHz ～ 6 GHz
XF-R 3-1　　 H-Field Probe 30 MHz ～ 6 GHz
XF-B 3-1　　 H-Field Probe 30 MHz ～ 6 GHz
XF-E 10　 　 E-Field Probe 30 MHz ～ 6 GHz
XF-U 2.5-1　H-Field Probe 30 MHz ～ 6 GHz
SMA-SMA   1 mケーブル
XF1 セットクイックガイド
ケース